В наличии
GNR TX 2000 — это мощный уникальный лабораторный рентгенофлуоресцентный спектрометр, использующий метод полного внешнего отражения (TXRF), позволяющий выполнять анализ элементов, находящихся даже в крайне малых количествах, вплоть до миллиардных долей (pg). Данный спектрометр полностью автоматический. Есть возможность выбрать до трех вариантов первичного излучения в ходе одного анализа. GNR TX 2000 является универсальным лабораторным спектрометром высочайшего класса.
Простая подготовка проб, определение элементов, находящихся даже в сверхнизких концентрациях, малое время проведения анализа, а также простая интерпретация результатов – все это делает данный спектрометр идеальным инструментом для анализа, как в лаборатории, так и прямо на производстве. Данный анализатор может дополнять или даже стать заменой такому распространенному в настоящее время методу анализа, как ICP-MS.
Основные преимущества GNR TX 2000:
Особенности метода
Метод полного внешнего отражения (TXRF) базируется на одних принципах, что и рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный анализ (EDX), но есть одно важное отличие. В TXRF угол падения рентгеновского луча скользящий и составляет несколько миллирадиан, а в EDX угол падения луча составляет 45°. Это позволяет добиться полного отражения луча, т.е. он не поглощается материалом подложки образца. В сочетании с крайне малой толщиной исследуемого образца происходит значительное снижение фонового шума, а рассеяние первичного пучка минимизируется.
В методе TXRF используется небольшое количество жидкого образца (приблизительно 5—100 µL), которая помещается на специальную подложку. Твердые образцы перед проведением анализа растворяют в специальном растворителе, затем растворитель выпаривается, а на подложке остается тончайшая пленка, толщиной всего несколько нанометров. Благодаря этому практически устраняются рассеяние и матричные эффекты.
Преимущества метода TXRF:
Сферы применения TXRF:
Пример сверхнизких пределов определения.
Ниже приведен пример спектра дистилированной воды содержащей 24.5 ppb хрома (Cr). Время съемки 500 секунд, излучение W анода с параметрами рентгеновской трубки 40 кВ 30 мА. Достижимый для данного образца предел определение составляет 35 ppt (что соответствует 3.5 µL).
Особенности метода.
Метод полного внешнего отражения (TXRF) основан на тех же принципах, что и рентгенофлуоресцентного энергодисперсионного анализа (EDX), за исключением одного важного отличия. В EDX рентгеновское излучение падает на образец под углом в 45°, а в методе TXRF используется скользящий угол падения первичного излучения в несколько миллирадиан. Благодаря этому первичный пучок полностью отражается и не поглощается подложкой образца. В сочетании с очень малой толщиной образца это приводит к минимизации рассеяния первичного пучка и значительному снижению фонового шума.
В методe TXRF небольшая аликвота жидкого образца (обычно 5—100 µL) помещается на подложку. Твердые образцы предварительно растворяется в подходящем растворителе. После выпаривания на подложке образуется тонкая пленка, толщиной несколько нанометров. Таким образом устраняется не только значительная часть рассеянного излучения, но и матричные эффекты. Применения одного внутреннего стандарта значительно упрощает проведение количественно анализа.
Сравнение пределов определения методов TXRF и ICP-MS.
Ниже приведены результаты сравнения пределов определения TXRF спектрометра GNR TX 2000 и типичных пределов определения ICP-MS:
Сравнение параметров различных методов анализа:
| Особенности | ICP-MS | TXRF | INAA |
|---|---|---|---|
| Образец: | |||
| Объем или масса | 2-5 mL | 5-100 µL | 10-200 mg |
| Поготовка твердых образцов | растворение и суспензия | растворение и суспензия | нет |
| Доля в аликвоте | < 0.4% | < 1% | любая |
| Разведение кислот | 1:100 | нет | нет |
| Сохранение пробы | нет | да | да |
| Анализ элементов: | |||
| Пределы определения | превосходные | очень хорошие | очень хорошие |
| Неопределяемые элементы | H, C, N, O, F, P, S | Z < 11 | Z < 9; Tl, Pb, Bi |
| Спектральные влияния | некоторые | мало | мало |
| Определение изотопов | да | нет | нет |
| Измерение: | |||
| Калибровка | несколько внутренних и внешних стандартов | один внутренний стандарт | несколько фольг чистых элементов |
| Матричные эффекты | сильные | нет | нет |
| Эффект памяти | да | нет | нет |
| Времязатраты на анализ | < 3 min | < 20 min | 20 min—30 days |
| Затраты: | |||
| Оборудование | Ar-плазма + квадруполь MS | XRF спектрометр с полным отраженеием | ядерный реактор + γ-спектрометр |
| Капитальные вложения | средние | средние | очень высокие |
| Затраты на содержание | высокие | низкие | высокие |
| Обслуживание | частое | редкое | редкое |
| Рентгеновский генератор: | напряжение: 10—60 кВ; ток: 10—60 мА; мощность 3 кВт. |
|---|---|
| Выходная стабильность генератора: | < 0.01% (на 10% колебаний питания). |
| Рентгеновская трубка: | двойной Mo/W анод (стандартная комплектация); фокус: 0.4 х 12 мм, максимальная мощность: 2.5 кВт. |
| Многослойный монохроматор: | Si/W монохроматор высокой эффективности — 80% (MoKα/WLα/Lβ). |
| Автоматический сменщик образцов: | 12 позиционный. |
| Детектор: | энергодисперсионный полупроводниковый Si-Li детектор; площадь: 20 мм2 (опционально до 80 мм2); толщина: 3.5 мм; разрешение < 137 эВ (по линии Kα Mn); скорость счета: > 10 тыс. импульсов в секунду. |
| Программное обеспечение: | управление параметрами спектрометра и обработка данных, включая метод наименьших квадратов Marquardt для вычисления площади пиков, автоматический и ручной режимы поиска, автоматическая и ручная калибровка по энергии, количественный анализ с использованием внутреннего стандарта, использование теоретических и экспериментальных кривых чувствительности, несколько типов коррекции фона. |
| Питание: | 220 В, максимальный ток 40А, 5.5 кВт. |
| Габариты: | 55 х 170 х 75 см. |
| Вес: | 185 кг. |
Напишите нам, если нужна помощь с выбором оборудования или есть вопросы по поставкам
Введите номер телефона и мы перезвоним вам в течении 15 минут